Sähkötekniikan ja automaation laitos

Elektroniikan integrointi ja luotettavuus

Elektroniikan integroinnin ja luotettavuuden tutkimus on luonnostaan erittäin monialaista. Tietotaitomme perustuu materiaalitieteeseen ja erityisesti heterogeenisten järjestelmien materiaalien välisten ilmiöiden ymmärtämiseen. Metodologiamme yhdistää mikrorakenteiden vahvan kokeellisen tutkimuksen ja analyysin termodynaamiseen ja termomekaaniseen sekä diffuusiokineettiseen mallintamiseen.
Electronics integration and reliability

Ryhmän jäsenet

Viimeisimmät julkaisut

In-Plane AlN-based Actuator: Toward a New Generation of Piezoelectric MEMS

Kristina Bespalova, Tarmo Nieminen, Artem Gabrelian, Glenn Ross, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Advanced Electronic Materials

Co, In, and Co–In alloyed Cu6Sn5 interconnects: Microstructural and mechanical characteristics

F. Emadi, V. Vuorinen, G. Ross, M. Paulasto-Kröckel 2023 Materials Science and Engineering: A

Achieving low-temperature wafer level bonding with Cu-Sn-In ternary at 150 °C

Obert Golim, Vesa Vuorinen, Glenn Ross, Tobias Wernicke, Marta Pawlak, Nikhilendu Tiwary, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Scripta Materialia

Detection of In-Plane Movement in Electrically Actuated Microelectromechanical Systems Using a Scanning Electron Microscope

Tarmo Nieminen, Nikhilendu Tiwary, Glenn Ross, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 Micromachines

Impact of Inherent Design Limitations for Cu–Sn SLID Microbumps on Its Electromigration Reliability for 3D ICs

Nikhilendu Tiwary, Glenn Ross, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel 2023 IEEE Transactions on Electron Devices

Joint International Master in Smart Systems Integrated Solutions

Knut E. Aasmundtveit, Changhai Wang, Márta Rencz, Mervi Paulasto-Kröckel, Kristin Imenes, Marc P.Y. Desmulliez, Ferenc Ender, Vesa Vuorinen 2022 2022 IEEE 9th Electronics System-Integration Technology Conference, ESTC 2022 - Proceedings

Low-temperature die attach for power components: Cu-Sn-In solid-liquid interdiffusion bonding

F. Emadi, S. Liu, Anton Klami, N. Tiwary, V. Vuorinen, M. Paulasto-Krockel 2022 ASDAM 2022 - Proceedings

Microstructural and mechanical characterization of Cu/Sn SLID bonding utilizing Co as contact metallization layer

F. Emadi, V. Vuorinen, S. Mertin, Kim Widell, M. Paulasto-Kröckel 2022 Journal of Alloys and Compounds

Utilizing Co as a contact metallization for wafer-level Cu-Sn-In SLID bonding used in MEMS and MOEMS packaging

Fahimeh Emadi, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel 2022 2022 IEEE 9th Electronics System-Integration Technology Conference, ESTC 2022 - Proceedings
Lisää tietoa tutkimuksestamme löytyy Aallon tutkimusportaalista.
Tutkimusportaali
  • Julkaistu:
  • Päivitetty: