Sähkötekniikan ja automaation laitos

Mittaustekniikka

Mittaustekniikan tutkimusryhmä keskittyy optisen säteilyn mittauksiin.
Metrology research group, Xenon lamp. Photo by the research group

Valoa on kaikkialla ympärillämme auringonvalon, keinovalon ja optisen viestinnän muodossa. Suurin osa elektroniikasta käyttää näkyvää tai infrapunavaloa viestinnässä, näytöissä, anturoinnissa, tiedonluvussa tai digitaalisessa viestinnässä. Väri on yksi kuluttajatuotteiden tärkeimmistä ominaisuuksista.

Optisen säteilyn mittaustekninen tutkimus on jaettu kolmeen osa-alueeseen: 

  • Radiometria keskittyy säteilylähteiden ja säteilymittalaitteiden ominaisuuksiin.
  • Fotometria puolestaan keskittyy valon ihmisessä aiheuttavan kirkkausvaikutelman tutkimiseen. 
  • Spektrofotometriassa puolestaan tutkitaan optisia komponentteja ja materiaalien optisia ominaisuuksia. 

Laboratoriossamme on kehitetty laitteistoja, jotka ovat maailman johtavaa tasoa tarkkuuden, koon ja käyttökustannusten osalta. Tutkimustoimintaamme ryhmässä kuuluu muun muassa elektroniikka, moderni optiikka ja optiset säteilymittaukset.

Mittaustekniikan tutkimusryhmä on Aalto-yliopiston ja MIKES:in yhteistyölaboratorio. Ryhmä on mukana lukuisissa kansallisissa ja kansainvälisissä projekteissa. Valtaosa tutkimuksesta toteutetaan tällä hetkellä osana EURAMET EPM, EMRP ja EMPIR ohjelmia. 

Mittaustekniikan tutkimusryhmä on optisten suureiden kansallinen mittanormaalilaboratorio Suomessa, mikä tarkoittaa, että ylläpidämme optisia suureita ja vastaamme korkeimman tason optisista kalibroinneista. Laboratorio noudattaa ISO/IEC 17025:2017 laatustandardia.

Mittaustekniikan tutkimusryhmää johtaa professori Erkki Ikonen. 

Yksityiskohtaisempaa tietoa Mittaustekniikan tutkimusryhmän toiminnasta löydät englanninkielisiltä sivuiltamme

Tutkimussuunnat

Lisätietoa ryhmämme keskeisistä tutkimussuunnista löytyy alla olevista linkeistä (englanniksi). Sivuilta löydät lisätietoa uusimmista projekteistamme. Tietoa vanhemmista projekteistamme löydät Vuosiraporttitietokannastamme.

Integrating sphere banner

Photometry

Photometry is the measurement of visible light as perceived by humans. Our current focus is on increasing the accuracy of the energy efficiency measurements of novel light sources, such as LEDs and OLEDs.

Department of Electrical Engineering and Automation
Solar cell banner

Radiometry

Radiometry deals with techniques for measuring electromagnetic radiation, in the form of ultraviolet radiation, visible light, and infrared radiation.

Department of Electrical Engineering and Automation
Grey cubes

Spectrophotometry

Spectrophotometry focuses on measuring the amount of light that a sample or an object absorbs or reflects as a function of wavelength using an instrument known as a spectrophotometer.

Department of Electrical Engineering and Automation
LED carousel

Electrical instrumentation

Off-the-shelf measurement equipment are not always available, and dedicated measurement devices are often built at Metrology Research Institute.

Department of Electrical Engineering and Automation

Viimeisimmät julkaisut

Measurement of bidirectional transmittance distribution function in the visible and near-infrared spectral range

Robin Aschan, Farshid Manoocheri, Dmitri Lanevski, Erkki Ikonen 2024 Metrologia

Evaluation of on-site calibration procedures for SKYNET Prede POM sun-sky photometers

Monica Campanelli, Victor Estellés, Gaurav Kumar, Teruyuki Nakajima, Masahiro Momoi, Julian Gröbner, Stelios Kazadzis, Natalia Kouremeti, Angelos Karanikolas, Africa Barreto, Saulius Nevas, Kerstin Schwind, Philipp Schneider, Iiro Harju, Petri Kärhä, Henri Diémoz, Rei Kudo, Akihiro Uchiyama, Akihiro Yamazaki, Anna Maria Iannarelli, Gabriele Mevi, Annalisa Di Bernardino, Stefano Casadio 2024 Atmospheric Measurement Techniques

Differential Spectral Responsivity of Solar Cells Measured with an LED Based Experimental Setup

Afsaneh Eghbali Yeldagermani, Erkki Ikonen, Petri Karha 2024 2023 Middle East and North Africa Solar Conference, MENA-SC 2023 - Proceedings

Survey of bidirectional transmittance distribution function measurement facilities by multilateral scale comparisons

Jinglin Fu, Alejandro Ferrero, Tatjana Quast, Michael Esslinger, Pablo Santafé-Gabarda, Néstor Tejedor, Joaquín Campos, Lou Gevaux, Gaël Obein, Robin Aschan, Farshid Manoocheri, Erkki Ikonen, Geiland Porrovecchio, Marek Šmíd, Ellie Molloy, Annette Koo, Søren A. Jensen, Rafael Oser, Jan Audenaert, Youri Meuret, Stefan Källberg, Iryna Gozhyk, Tobias Kraus, Alfred Schirmacher 2024 Metrologia

Recent advances and perspectives in photometry in the era of LED lighting

Erkki Ikonen 2024 Measurement Science and Technology

Spectral analysis of deviations from key comparison reference values

Kinza Maham, Vili Kosonen, Juha Peltoniemi, Petri Kärhä, Erkki Ikonen 2024 Metrologia

Characterization of PillarHall test chip structures using a reflectometry technique

Aleksandr Danilenko, Masoud Rastgou, Farshid Manoocheri, Jussi Kinnunen, Virpi Korpelainen, Antti Lassila, Erkki Ikonen 2023 Measurement Science and Technology
Lisää tietoa tutkimuksestamme löytyy Aallon tutkimusportaalista.
Tutkimusportaali

Lisätietoa meistä

  • Julkaistu:
  • Päivitetty: