Tapahtumat

Väitös mittaustekniikan alalta, M.Sc. Sucheta Sharma

Väitöstilaisuudet
Väitös Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulusta, informaatio- ja tietoliikennetekniikan laitokselta
Kuvitus puhujakorokkeesta ja sen yläpuolella olevasta tohtorinhatusta.

Milloin

–

Missä

Maarintie 8 & Verkossa
Sali AS2

Tapahtuman kieli

englanti

Väitöskirjan nimi: Applications of Interferometric Measurements and Photoacoustic Detection in Optical Metrology

Tohtoriopiskelija: M.Sc. Sucheta Sharma
Vastaväittäjät: Dr. Howard W. Yoon, National Institute of Standards and Technology, Yhdysvallat ja Dr. Tom Kuusela, Turun yliopisto
Kustos: Prof. Erkki Ikonen, Aalto-yliopiston sähkötekniikan korkeakoulu, informaatio- ja tietoliikennetekniikan laitos

Linkki väitöskirjan sähköiseen esittelykappaleeseen (esillä 10 päivää ennen väitöstä): https://aaltodoc.aalto.fi/doc_public/eonly/riiputus/

Yhteystiedot:

Email  sucheta.sharma@aalto.fi


Katso myös:

  • Päivitetty:
  • Julkaistu:
Jaa
URL kopioitu