Palvelut

Analyyttinen korkean erotuskyvyn SEM: JEOL JSM-7500FA

Ohjeet

Lataa ohjeet alla olevista linkeistä:

Tekniset tiedot: JEOL JSM-7500FA

Valmistaja

JEOL

Malli

JSM-7500FA

Emissio

Cold FEG

Asennus

2008

Detektorit

Kolonnin sisäinen SE
ETSE
BSE (kaksisegmenttinen)
EDX (JEOL)

Resoluutio

0,6 nm 30 kV:n asetuksella
1,4 nm 1 kV:n asetuksella

Kiihdytysjännite

0,1–30 kV

Anturin virta

-

Toimintatilat

Voimakas alipaine (10–5 Pa)

Näytealusta

Viisiakselinen moottoroitu
X ja Y 50 mm
Z 25 mm
R 360°
T -5–70°

Näytekoko

Halkaisija enintään 100 mm (liikelaajuus enintään 50 mm)
Korkeus enintään 10 mm

Yhteydenotot

[email protected]
[email protected]

Hinnoittelu

Katso nykyinen hinnasto.

Saatavuus

Laitetta voivat käyttää myös ulkopuoliset käyttäjät, kuten muut osastot, yliopistot, VTT ja teollisuus.
Kuvantamista on myös mahdollista ostaa palveluna.
Lisätietoja antaa professori Janne Ruokolainen.

Valokuvat ja mikrokuvaukset

Nanomikroskopiakeskuksen JEOL JSM-7500FA

SEM-näytekammio

Moniseinämäiset hiilinanoputket
+ katalyyttiset Fe-partikkelit
Näyte: DI Antti Kaskela
Käyttäjä DI Juuso Korhonen

Nanoselluloosafibrillit (ei päällystettä)
Mikrokuva: DI Juuso Korhonen

Kultananopartikkelit hiilellä
2 kV:n Gentle Beam -tila
Suurennus: 500 000
Kuva: NMC:ssä JEOL

Kultananopartikkelit hiilellä
1 kV:n Gentle Beam -tila
Suurennus: 500 000
Kuva: NMC:ssä JEOL

Kultananopartikkelit hiilellä
500 V
Suurennus: 500 000
Kuva: NMC:ssä JEOL

Kultananopartikkelit hiilellä
100 V
Suurennus: 500 000
Kuva: NMC:ssä JEOL

Tätä palvelua tarjoaa:

Nanomikroskopiakeskus

Löysitkö tästä tarvitsemasi tiedon? Jos et, ota meihin yhteyttä.
  • Julkaistu:
  • Päivitetty:
Jaa
URL kopioitu