TkL Maija Ojasen väitös: Spektrisen irradianssin ja säteilylämpötilan mitta-asteikot

21.05.2010 / 12:00 - 15:00

Sijainti: Teknillinen korkeakoulu, Sähköosasto, Sali S5, Otakaari 5, 02150, Espoo, Finland, FI

Luotettavuutta ja nopeutta spektrisen irradianssin ja säteilylämpötilan mittauksiin
    
Väitöskirjan nimi   
Spectral Irradiance and Radiation Temperature Scales
Spektrisen irradianssin ja säteilylämpötilan mitta-asteikot

Spektrisen irradianssin ja säteilylämpötilan mittauksia tarvitaan useilla tutkimuksen ja teollisuuden aloilla. Meteorologiset tutkimuslaitokset mittaavat auringon spektristä irradanssia etenkin ultraviolettialueella. Korkeiden lämpötilojen ei-kontaktimittauksia tarvitaan  esimerkiksi metalliteollisuudessa sekä uusien komposiittimateriaalien valmistuksessa.  

Työssä esitetään useita parannuksia mitta-asteikkojen toteutukseen. Työssä on kehitetty malli spektrisen irradianssin lähteenä käytettävälle volframi-halogeenilampulle nopeita kalibrointeja varten.  Lisäksi olen kehittänyt säteilylämpötilamittausten laadunvarmistusta absoluuttisesti kalibroitujen suodatinradiometrien avulla.

Vertailumittaukset ovat tärkeä osa kansallisten mittanormaalilaboratorioiden kalibrointipalveluiden laadunvarmistusta. Työssä esitetään kahden vertailumittauksen toteutus ja tulokset, sekä vertailujen linkitys.  Linkityksen avulla voidaan tutkia, kuinka hyvä on avainvertailuun osallistumattoman kansallisen mitta-asteikon ja avainvertailun referenssiarvon väline yhtäpitävyys. Työssä esitetään menetelmä aiempaa realistisemman epävarmuusarvion laadintaan linkityksen yhteydessä.

Vastaväittäjä: Dr. Arnold A. Gaertner, National Research Council Canada
Valvoja: professori Erkki Ikonen, Aalto-yliopiston teknillinen korkeakoulu, Signaalinkäsittelyn ja akustiikan laitos

Väitöskirjan verkko-osoite: http://lib.tkk.fi/Diss/

Lisätietoja:

Maija Ojanen
p. 050 5441991, maija.ojanen@tkk.fi



Map © OpenStreetMap. Some rights reserved.

Takaisin arkistoon.

Bookmark and Share